тендикТендерыВойтиЗарегистрироваться

Комплектующее для измерения толщины тонких пленок, формируемых для процессов фотолитографии с длиной волны излучения эксимерного лазера 248 нм (KrF), входящее в состав испытательного стенда для проведения технологических испытаний и отладки технологических режимов для ОО "Трек-200" – эллипсометр

КоммерческиеУслугаПромышленное оборудованиеМоскваРТС-тендер

Реестровый номер—
ЗаказчикАКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "ЗЕЛЕНОГРАДСКИЙ НАНОТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ЦЕНТР"
Начальная цена—
РегионМосква
ЗаконКоммерческие
Опубликовано23.10.2026
Приём заявок до30.10.2026
ПлощадкаРТС-тендер

Что закупают

ПозицияКоличествоЦена за единицуОКПД2
Комплектующее для измерения толщины тонких пленок, формируемых для процессов фотолитографии с длиной волны излучения эксимерного лазера 248 нм (KrF), входящее в состав испытательного стенда для проведения технологических испытаний и отладки технологических режимов для ОО "Трек-200" – эллипсометр1.0 шт—
Рассчитать маржу по этой закупке

Похожие закупки

Ещё: Все закупки заказчика, Промышленное оборудование, Промышленное оборудование — Москва, Все закупки: Москва